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XRF能量色散X射线荧光分析仪

  • 更新时间:  2024-06-11
  • 产品型号:  Fischer XRF
  • 简单描述
  • FISCHER XRF能量色散X射线荧光分析仪快速、简单、无损-这是采用Fischer XRF测量技术的XRF分析代表的意义!X射线束使测量样品中的原子电离。探测器检测发生的荧光辐射,内部开发的软件处理信号。
详细介绍

                                                                                 德国菲希尔 XRF能量色散X射线荧光分析仪


XRF能量色散X射线荧光分析仪

您的需求是我们的动力–Fischer XRF测量技术的好处一目了然

我们有您需要的:X射线荧光分析(XRF分析)领域拥有多年的综合专业知识!您将获得最佳解决方案,尤其是针对您的测量任务–我们承诺!

FISCHER的XRF测量原理–其工作原理如下:

XRF能量色散X射线荧光分析仪 快速、简单、无损-这是采用Fischer XRF测量技术的XRF分析代表的意义!X射线束使测量样品中的原子电离。探测器检测发生的荧光辐射,内部开发的软件处理信号。

设置FISCHER XRF测量仪器–这就是获得最佳测量结果的方式:

必须注意细节:衡量成功与否与每个组成部分都息息相关!

X射线管和阳极材料:
小零件,有大影响!XRF设备的“心脏",即X射线发生器,由一个带有钨、铑、钼或铬阳极的标准或微聚焦射线管组成。这些部件决定了达到哪种测量精度和哪种能谱。

滤波器:
只有必要的东西才能通过:X射线束通过滤波器,以降低相关能量范围内的背景噪声,从而对来自仅以低浓度存在的材料的信号实现更高的灵敏度。

孔径和X射线光学元件:
菲舍尔的聚焦!作为全球仅有的两家多毛细管光学器件的制造商之一,我们能够将大部分初级辐射集中在一个微小的测量点上。

XRF能量色散X射线荧光分析仪


 探测器:

只有在Fischer,您可以选择3种不同的探测器类型,以实现测量任务的最佳解决方案:比例计数管、硅PIN二极管和硅漂移探测器。

X射线荧光分析的基础和最重要的仪器性能在过去,

X射线荧光分析(XRF)主要用于地质学。如今,它已成为工业和实验室的关键技术。这种方法非常通用:它可以检测从钠到铀的所有相关化学元素

XRF通常用于材料分析,即确定样品中给定物质的含量,如测量珠宝中的黄金含量或根据《有害物质限制》(RoHS)指令检测日常物品中的有害物质。此外,可以使用XRF测量镀层的厚度:它快速、环保且无损。这就是测量是如何进行的当X射线设备开始测量时,X射线管会发出高能辐射,这也被称为‘初级’辐射。当这些X射线击中样品中的一个原子时,它们会增加能量–即它们“激发"原子 - 使原子向其原子核附近发射电子,这个过程被称为“电离"。由于这种状态是不稳定的,一个来自更高电子层的电子移动来填充空隙,从而发射出“荧光"辐射。


这种二次辐射的能量水平类似指纹一样:它是每个元素的特征。探测器接收荧光并将信号数字化。在信号经过处理后,设备产生一个光谱:检测到的光子的能级在x轴上绘制,其频率(计数率)在y轴上绘制。样品中的元素可以从光谱中波峰的位置(x轴方向)来识别。这些峰的水平(y轴方向)提供了有关元素浓度的信息。


XRF能量色散X射线荧光分析仪




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